查看形貌分析的源代码
←
形貌分析
跳转至:
导航
、
搜索
因为以下原因,你没有权限编辑本页:
你刚才请求的操作只对属于该用户组的用户开放:
用户
您可以查看并复制此页面的源代码:
'''形貌分析'''([[汉语拼音]]:Xingmao Fenxi;[[英语]]:Topography Analysis),对固体物质形状起伏特征的显微分析方法。通常指表面形貌分析。形貌分析的结果以人眼能直接辨认的图像形式显示,当分析的分辨本领达到原子水平时,可以观察到原子排列状态,这时显微结构分析与化学结构分析相衔接。 形貌分析普遍应用的主要工具是电子显微镜,其中主要是扫描电子显微镜(SEM),还有透射电子显微镜(TEM)的部分功能。这类仪器是利用电子束作为探针,与被分析样品发生相互作用,作用后的电子携带着样品形貌特征的信息,电子显微镜使这些信息以放大图像的形式显示。20世纪80年代以后发展的扫描隧道显微镜( STM)是利用量子隧道效应来描绘样品的表面形貌,具有原子级的分辨率,可以进行[[原子]]水平的表面微观结构分析。 形貌分析在材料科学、生物医学、物理、化学及微电子等领域得到广泛应用。 [[Category:中文词典]] [[Category:X音词条]]
返回
形貌分析
。
导航菜单
个人工具
创建账户
登录
名字空间
页面
讨论
变种
查看
阅读
查看源代码
查看历史
操作
搜索
导航
首页
最近更改
随机页面
工具箱
链入页面
相关更改
特殊页面
页面信息
扫描二维码可以用手机浏览词条