“迈克耳孙干涉仪”的版本间的差异

2018年3月28日 (三) 01:41的最后版本

　　迈克耳孙干涉仪（汉语拼音：mài kè ěr sūn gān shè yí），（Michelson interferometer），根据分振幅原理设计的精密测量仪器。由美国物理学家A.A.迈克耳孙于1881年创制。

　　迈克耳孙干涉仪的基本结构如图，M1和M2是互相垂直放置的反射镜，D和C是两块厚度相同的抛光玻璃平板，D的背面涂有半反射层，可使入射光分成强度相等的反射光和透射光，故名分束器。从扩展光源来的光在分束器上分割成两束相干光，分别经M1和M2反射后重新重叠起来，在E处观察干涉条纹。平板C是为使两束相干光通过玻璃板的次数相同（使光程差不致过大）而设置，称为补偿板。从观察点E看来，两束相干光分别是从M1和M2′反射而来，M2′是M2在半反射镜中的虚像。M1和M2严格垂直时，M1和M2′严格平行，相当于平行平面薄膜的两个表面，E处将观察到同心圆环状等倾干涉条纹（见薄膜干涉）。反射镜M1可借助于精密螺栓在导轨上前后移，移动距离可精确读出。M1移动时相当于连续改变M1和M2′间的距离，干涉条纹将跟着移动。在视场中心设置参考标记，当有Δk个条纹移过参考标记时，M1移动的距离Δt＝（λ／2）Δk，λ为波长。只要数出移过参考标记的条纹数，由此式即可算出移动的距离，故迈克耳孙干涉仪可用来精确测定长度。

　　迈克耳孙干涉仪有多种变型，较重要的是泰曼干涉仪，常用来检查光学玻璃内部的不均匀性和各种缺陷、精确测定棱镜的角度、检验反射镜和透镜的质量等。